Análise de falhas na superfície ativa de diferentes instrumentos de níquel-titânio por meio da microscopia eletrônica de varredura release_wr4xrefmbrbebgabrhb47k5tgq

by Helder Fernandes De Oliveira, Angelita Santos Matos, Mariana Silva Xavier, Elisa da Silva Paula, Mônica Misaé Endo

Published in Revista Odontológica do Brasil Central by Revista Odontologica do Brasil Central - ROBRAC.

2019   Volume 28, Issue 84

Abstract

Objetivo: Analisar falhas de fabricação na superfície ativa de diferentes instrumentos de níquel-titânio por meio da microscopia eletrônica de varredura. Material e método: Foram analisados um total de 33 instrumentos distribuídos em dois grupos de acordo com a procedência: G1 - Sistema Protaper Next® sendo analisados 03 kits de 05 instrumentos de NiTi cada (X1 – 17/0.04; X2 – 25/0.06; X3 – 30/0.07; X4 – 40/0.06; X5 – 50.0.06); G2 - Sistema Biorace®, sendo analisados 03 kits constituído de 06 instrumentos  cada (BR0 – 25/0.08; BR1 – 15/0.05; BR2 – 25/0.04; BR3 – 25/0.06; BR4 – 35/0.04; BR5 – 40/0.04); Os instrumentos foram retirados da embalagem e direcionados para a análise de falhas na superfície ativa em imagens de microscopia eletrônica de varredura. Para determinação das falhas na superfície do instrumento, dividiu-se a parte ativa de 16mm em 14 partes de 2,55mm cada (S1-S7), nominadas seguimentos de 1 ao 7. Resultados: As frequências de defeitos encontradas para cada segmento dos instrumentos analisados foram cruzadas com os dados do número do instrumento por meio do teste do Qui-quadrado. Houve influência de uma variável sobre a outra apenas quando se analisou o segmento 1 do kit Protaper Next (p=0,005). O instrumento X4 mostrou um número maior de falhas que os demais instrumentos. A relação entre o número de defeitos observados nos diferentes sistemas de instrumentos foi avaliada pelo teste do Qui-quadrado. Não foram encontradas diferenças estatisticamente significantes entre Biorace e Protaper Next (p>0,05). Conclusão: Ambos os instrumentos dos grupos analisados apresentaram algum tipo de falha na superfície ativa.
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Date   2019-07-11
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